Explore
Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
Michael Kornely
2014
0 Ungluers have
Faved this Work
Login to Fave
In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.
This book is included in DOAB.
Why read this book? Have your say.
You must be logged in to comment.
Rights Information
Are you the author or publisher of this work? If so, you can claim it as yours by registering as an Unglue.it rights holder.Downloads
This work has been downloaded 14 times via unglue.it ebook links.
- 14 - pdf (CC BY-NC-ND) at Unglue.it.
Keywords
- Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor (MIC)anodengestützte Zelle (ASC)Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)APU Stack
Links
DOI: 10.5445/KSP/1000027170Editions